Кварц (SiO2)

Кремниевые подложки, предназначенны для использования в лабораториях органической электроники в качестве подложек для полевых транзисторов, ГИС, а также для других приложений, включая рентгеновские исследования, анализ поверхностной микроскопии и измерения эллипсометрии.


Параметр
Ед. измерения
Значение
Температура плавления oC 1467
Плотность г/см3 2,65
Твердость по Моосу 7
Теплопроводность (при 25oC) Вт/(м·К) 10,7 (паралелльно оси Z)
6.2 (перпендикулярно оси Z)
Удельная теплоемкость (25°C ) Дж/Кг∙°К 4.34 (паралелльно оси Z)
4.27 (перпендикулярно оси Z)
Модуль сдвига (G) ГПа 31,14
Массовый модуль (К) ГПа 36,4
Упругие коэффициенты C11=87; C12=7; C44=58; C13=13; C14=18; C33=106

Также смотрите

Al2O3
Оксид алюминия
AlN
Нитрид алюминия
Si3N4
Нитрид кремния
LiNbO3
Ниобат лития
LiTaO3
Танталат лития
ZrO2
Оксид циркония
BeO
Оксид бериллия